MAP考試,英文全稱為Measures of Academic Progress,是由美國(guó)最大的教育測(cè)評(píng)機(jī)構(gòu)——美國(guó)西北測(cè)評(píng)協(xié)會(huì)(NWEA)研發(fā)的計(jì)算機(jī)自適應(yīng)測(cè)試,根據(jù)美國(guó)共同核心課程標(biāo)準(zhǔn)(CCSS)、美國(guó)州立課程標(biāo)準(zhǔn)等來(lái)開(kāi)發(fā)。
MAP考試是一項(xiàng)自適應(yīng)機(jī)考。MAP考試是基于每一名受測(cè)者的學(xué)業(yè)水